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Cassification
更新时间:2026-03-07
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关键词:X3TGR;自动透反测试仪;可见分光光度计;透过率测量;反射率测量;无损分析
在光学制造、材料研发、食品医药、冶金化工等领域,材料的透过率、反射率等光学性能是评判产品质量、优化工艺参数的核心依据。X3TGR TR 自动透反测试仪作为公司研发的智能型可见分光光度计,融合光学技术与自动化控制功能,兼具透射与反射双重测量能力,适配从微小光学元件到大型平板材料的多样化检测需求,为多行业提供高效、精准、无损的光学性能分析解决方案。透射测量模式:涵盖光谱扫描、时间扫描、DNA 专用测试、多波长测试、标准曲线测试等全功能,数据储存无上限,可满足光学材料透过率精准分析、样品成分定量检测等需求;
反射测量模式:配备剩余反射测量装置及专用软件,支持 φ2 圆形样品反射率测试,可精准测定光学镀膜件、宝石、金属表面等的反射性能,为膜系修正、材料表面特性分析提供数据支撑。
核心组件配置:搭载高性能全息光栅与进口硅光二极管检测器,配合进口品牌钨灯光源,确保光学信号的稳定输出与精准接收,从源头保障测量精度;
精准参数控制:波长范围覆盖 325-1100nm,分辨率达 0.1nm,波长间隔可精准至 0.1nm,波长准确度 ±0.5nm、重复性 0.2nm,确保不同批次、不同样品的检测数据具有可比性;
低干扰设计:360nm 处杂散光仅 0.1% T,500nm 处稳定性达 ±0.001A/h,有效减少环境光、设备噪声对检测结果的干扰,尤其适用于低透过率、低反射率样品的精准分析。
宽大样品室布局:样品室可容纳 5—100mm 各种规格的比色皿,同时支持 190*120mm 大平片样品的反射与透射测量,兼容微小光学元件(如隐形眼镜片、手机摄像头镜片)与大型平板材料(如建筑玻璃、薄膜构件),无需更换样品夹具即可完成不同尺寸样品检测;
狭缝自动可变:光谱带宽支持 1、2、4、5nm 四档自动切换,可根据样品特性与检测需求灵活调整,适配从高透光材料到高反射材料的不同检测场景,平衡检测效率与测量精度。
全流程自动控制:波长调节、调零操作全程自动化,无需人工手动校准,减少人为操作误差,确保检测流程标准化;
便捷操作界面:配备触摸式按键与液晶显示器,操作逻辑清晰直观,参数设置、测试启动、结果查看一键完成,无需专业技术培训即可上手;
数据高效处理:支持 RS-232 标准接口、USB 接口与并口输出,测试数据可直接导入 TFC 版 EXE 及 IFCalc 汉化软件,方便后续数据分析、图谱绘制与报告生成;仪器出厂前全套调试完毕,用户拿到手即可直接开展检测,无需额外调试流程。
| 技术类别 | 具体参数 |
|---|---|
| 基础信息 | 型号:X3TGR;产地:上海 |
| 光学参数 | 波长范围:325-1100nm;分辨率:0.1nm;波长准确度 ±0.5nm;波长重复性 0.2nm光谱带宽:1、2、4、5nm(自动可变);杂散光:0.1% T(360nm 处);稳定性:±0.001A/h(500nm 处) |
| 测量范围 | 吸光度:-0.3-3.0A;透射率:0-200% T;支持 φ2 圆形样品反射率测试 |
| 核心组件 | 光源:进口品牌钨灯;检测器:进口硅光二极管;光学元件:高性能全息光栅 |
| 样品适配 | 样品室:兼容 5-100mm 比色皿、190*120mm 大平片;适配微小元件与大型平板材料 |
| 操作控制 | 触摸式按键;液晶显示器;波长、调零全自动;支持光谱扫描、时间扫描等多种测试模式 |
| 数据输出 | RS-232 标准接口、USB 接口、并口;数据可导入 TFC 版 EXE、IFCalc 汉化软件 |
| 物理参数 | 仪器尺寸:470380200mm;重量:13kg;电源:AC 220V/50Hz 或 110V/60Hz |
| 装箱清单 | 仪器主机 1 台、电源线 1 根、反射测试台 1 套、高反基准片 1 片、低反基准片 1 片、随机资料 1 份 |